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A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀，采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進(jìn)行樣品顆粒度的檢測(cè)。低檢測(cè)下限可達(dá)0.08µm ，在全球同類產(chǎn)品中都處于先地位。 大量程激光粒度儀A22的推出，可以替代之前Fritsch公司所生產(chǎn)的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀，讓您一次使用中可以同時(shí)獲得過去三臺(tái)機(jī)器的全部功效，使用更加便捷。
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